涂鍍層測厚儀/覆層測厚儀德國EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；可使用一片或二片標準箔校準。
涂鍍層測厚儀/覆層測厚儀德國EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型存儲的數據量：
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) | 99 |
每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算，并可設寬容度極限值) | 99 |
可用各自的日期和時間標識特性的組數 | 500 |
數據總量 | 10000 |
/覆層測厚儀德國EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型統計計算功能：
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar | √ |
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ |
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar | √ |
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ |
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 | √ |
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 | √ |
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | √ |
/覆層測厚儀德國EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型其他功能概述：
設置極限值 | √ |
連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值 | √ |
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 | √ |
連續測量模式中顯示zui小值 | √ |
/覆層測厚儀德國EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型所配探頭與其他minitest機型*，請查閱其他款文檔。
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
相關測厚儀探頭配置請與我們。
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